可靠性试验条件: 按下表所示条件抽样试验
项目 |
条件 |
时间 |
接收标准 |
高温储存 |
80° C |
240 |
见备注 |
高温工作 |
70° C |
240 |
见备注(客户有要求时进行) |
低温储存 |
-30° C |
240 |
见备注 |
低温工作 |
-20° C |
240 |
见备注(客户有要求时进行) |
高温高湿 |
60° C/90%RH |
240 |
见备注 |
冷热冲击 |
-30℃/30min
25℃/5min |
10 个循环 |
见备注 |
水煮试验 |
100° C |
4 |
室温 4H 后检查允许封口胶脱落 |
经过以上可靠性试验后 ,在室温存放 4h 后检测应满足:
①没有玻璃破裂、 液晶泄漏、 空气侵入、 取向紊乱、 脱落等异常。
【责任编辑】: 晶拓液晶
版权所有:http:// www.chipsz.com转载请注明出处,违者本网将依法追究责任。